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                    應力雙折射測量系統

                    • 型 號:WPA-200
                    • 訪問次數:4178
                    • 更新時間:2024-03-13
                    • 價   格:

                    應力雙折射測量系統WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術開發的產品,*的測量技術使其成為*的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。

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                    WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其的光子晶體制造技術開發的產品,*的測量技術,使其成為*的光學測量產品。 應力雙折射測量系統在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。

                    應力雙折射測量系統WPA-200主要特點:

                    • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。

                    • 采用CCD Camera,視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。

                    • 測量數據是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數據。

                    • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

                    • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。

                    • *很高的殘余應力測量設備。


                    主要應用:

                    · 光學零件(鏡片、薄膜、導光板)

                    · 透明成型品(車載透明零件、食用品容器)

                    · 透明樹脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC)

                    · 透明基板(玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石)

                    · 有機材料(球晶、FishEve)


                    技術參數:

                    項次

                    項目

                    具體參數

                    1

                    輸出項目

                    相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】


                    2

                    測量波長

                    520nm、543nm、575nm


                    3

                    雙折射測量范圍

                    0-3500nm


                    4

                    測量小分辨率

                    0.001nm


                    5

                    測量重復精度

                    <1nm(西格瑪)


                    6

                    視野尺寸

                    218x290mm-360×480mm(標準)


                    7

                    選配鏡頭視野

                    無選配


                    8

                    選配功能

                    實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制,CD模式




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