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                    online雙折射測量儀

                    • 型 號:WPA-KAMAKIRI
                    • 訪問次數:1958
                    • 更新時間:2024-09-03
                    • 價   格:

                    歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應力測量設備,其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結合,研制在線雙折射/殘余應力測量儀,世界上僅有online雙折射測量儀KAMAKIRI可以提供,廣泛應用于光學薄膜,PVA,PC,COP和TAC等領域。

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                    online雙折射測量儀主要特點:

                    • 可用來評估高相位差產品,PET薄膜和樹脂成品

                    • 三波長測定雙折射范圍可達3000nm

                    • 可選配高相位差配件,滿足10000nm的超過相位差測定需求


                    online雙折射測量儀應用領域:

                    • 相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC)

                    • 保護薄膜(PET/PEN/PS/PI)

                    • 樹脂成型

                    • 玻璃


                    主要參數:

                    項次

                    項目

                    具體參數

                    1

                    輸出項目

                    相位差【nm】,軸方向【°】


                    2

                    測量波長

                    523nm、543nm、575nm


                    3

                    雙折射測量范圍

                    0-3000nm


                    4

                    主軸方位范圍

                    0-180°


                    5

                    測量重復精度

                    <1nm


                    6

                    測量尺寸

                    97×77mm ~ 2900×2310mm


                    7

                    定制選項

                    光學配件,可測量超過10000nm的高相位差


                    留言框

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